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LED光电测试系统
用于测量LED光谱功率分布、空间光强分布、电性能测试分析

技术指标:


波长测量范围: 380-780 nm


光学带宽: 2.5nm


色品坐标准确度: ±0.0015(通用)±0.0003(标准A光源下)


色品坐标重复性: ±0.00015x,±0.0002y (恒温蓝光LED)


色温范围: 1000K~100000K


全波段扫描时间: 几十毫秒至几秒,可测<1μs的极快闪光全谱


正向电流F I 的测量范围:1.000mA~2000.0mA;正向电压F V 的测量范围:0.001V~15.000V


反向漏电流R I 的测量范围:0.01μA~100.00μA; 反向电压R V 的测量范围:0.01V~10V


预热时间:0 mS ~9999mS


测试精度:±0.2%F.S.


光强:10mcd~200cd


垂直轴(γ轴)扫描范围:±10°~±90°


水平轴(C轴)扫描范围: 0°~360°


转角精度:±0.05°

应用领域: 用于测量LED光谱功率分布、空间光强分布、电性能测试分析,以及根据CIE标准计算和显示各种光度学、色度学和辐射度学参数,适用于单颗LED,Lamp直插式和SMD表贴式封装LED。