LED光电测试系统
用于测量LED光谱功率分布、空间光强分布、电性能测试分析
技术指标:
波长测量范围: 380-780 nm
光学带宽: 2.5nm
色品坐标准确度: ±0.0015(通用)±0.0003(标准A光源下)
色品坐标重复性: ±0.00015x,±0.0002y (恒温蓝光LED)
色温范围: 1000K~100000K
全波段扫描时间: 几十毫秒至几秒,可测<1μs的极快闪光全谱
正向电流F I 的测量范围:1.000mA~2000.0mA;正向电压F V 的测量范围:0.001V~15.000V
反向漏电流R I 的测量范围:0.01μA~100.00μA; 反向电压R V 的测量范围:0.01V~10V
预热时间:0 mS ~9999mS
测试精度:±0.2%F.S.
光强:10mcd~200cd
垂直轴(γ轴)扫描范围:±10°~±90°
水平轴(C轴)扫描范围: 0°~360°
转角精度:±0.05°
应用领域: 用于测量LED光谱功率分布、空间光强分布、电性能测试分析,以及根据CIE标准计算和显示各种光度学、色度学和辐射度学参数,适用于单颗LED,Lamp直插式和SMD表贴式封装LED。
用于测量LED光谱功率分布、空间光强分布、电性能测试分析
把Ar气充入离子源放电室并使其电离形成等离子体
主要用于溅射Ti、Al、Ni、Au、Ag、Cr、Pt、Cu、TiW、Pd、Pt、Zn等金属薄膜